euspen 2008 （2008年5月）
euspen2008（チューリッヒ，スイス，2008年5月19日〜5月21日）に高増，高橋が参加しました．高橋はポスター講演を行いました．（2008年5月）
発表した論文：
- Development of residual layer thickness measurement system for nano-imprint
lithography based on
near-field optics (S. Takahashi, T. Nagao, S. Minamiguchi, S. Usuki, K. Takamasu)
 Plenary
 高橋のポスター
 Banquet
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