Photonics in Measurement （ドイツ，フランクフルト）
Heidenhain（ドイツ，トラウンロイト）
高増，高橋が2004年6月21日から6月26日にドイツフランクフルトで開催されたPhotonics in Measurementへ参加しました． 高橋はPlenaryとして発表しました．その後，ドイツ ハイデンハイン本社を訪問し，研究に関する説明と議論，見学をしました．
| Photonics in Measurement での発表論文 |
- Satoru Takahashi, Toshiyuki Nakao, Kiyoshi Takamasu, Ryusuke Nakajima,
Takashi Miyoshi, Yasuhiro Takaya, Toshie Yoshioka, Tatsuo Hariyama, Keiichi
Kimura: Nano-Defects Inspection of Semiconductor Wafer using Evanescent
Wave
| Photonics in Measurement の様子 |
会場のFrankfurt Messe
高橋のPlenaryの発表
Heidenhainでの発表の様子
 
 
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