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解説,解説論文,報告書,招待講演などです.

解説論文,講演など:2016年度
  • 高橋哲:(招待講演)構造照明シフトによる超解像光学式欠陥計測技術の開発, 精密工学会・超精密位置決め専門委員会前刷集2016-1 (4),第110回定例会「位置決め技術トピックスから見た動向と注目トピックス」, 2016, 31
  • 高増潔,スダータムウィロート:光コムによる絶対距離測定と三次元計測技術, 光技術コンタクト 54 (5), 2016, 18-24
  • 高増潔:幾何特性仕様と幾何公差の解釈および測定方法, 検査技術 21 (9), 2016, 1-4
  • 高橋哲:光でめざすものづくり−回折限界超越への挑戦−, 生産研究 68 (5), 2016, 353-358
  • 元行勝己, 山下守, 白川周, 田中秀岳, 道畑正岐:(Gravure & Interview 精密工学の最前線)高精度な工作機械を支えるエンコーダの技術 ハイデンハイン株式会社, 精密工学会誌 82 (9), 2016, 769-772
  • 橘一輝,道畑正岐,高増潔,高橋哲:日本機械学会 生産加工・工作機械部門部門優秀講演論文賞, 日本機械学会 生産加工・工作機械部門ニュースレター No. 50, 2016, 7-8
  • 高橋哲,工藤良太:(特集 超える : 空間・時間分解能)回折限界を超える観察技術−特殊定在波照明によるコヒーレント結像逐次再構成, 光アライアンス 27 (11), 2016, 1-5
  • 道畑正岐:(精密工学会アフィリエイト)第28回アフィリエイト委員会 & 第21回アフィリエイト見学会の開催報告, 精密工学会誌 82 (11), 2016, 964-966
  • 松本弘一:2016年度(第12回)精密工学会賞受賞業績の紹介,精密工学会誌 82(12), Introduction of JSPE PRIZES 2016, Precision Engineering 48, 2016
  • 松本弘一:(特集 オプトメカトロニクスにかける夢)光センシング分野の夢, 光技術コンタクト 55 (1), 2017, 4-11
  • 高増潔:(特別講演)絶対距離測定の高精度化と応用−長さのトレーサビリティからパルス干渉計測へ−, 精密工学会中国四国支部特別講演会,広島市, 2017
  • 高橋哲:(招待講演)マイクロ・ナノ製造のための光エネルギー援用加工計測技術, 電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ・システムナノ技術に関する時限研究専門委員会第4回研究会, 2016
  • 高橋哲:(招待講演)光でめざすものづくりー回折限界超越への挑戦ー, 東大駒場リサーチキャンパス公開2016,オープニングセレモニー講演, 2016
  • 松本弘一:光計測標準にひかれて46年, 2016年度精密工学会秋季贈賞式,精密工学会賞受賞記念講演, 2016

解説論文,講演など:2015年度
  • 高増潔:TEM およびCD-SEM 画像によるFinFET の形状測定,次世代リソグラフィワークショップ2015(NGL2015), 東京工業大学,2015,23-24
  • 松本弘一:コモンパス干渉計=非線形光学干渉法とタンデム干渉法=,光アライアンス26 (10),2015,44-48
  • 高増潔:図面どおり三次元をつくれるか? 幾何公差とメトロロジー,日本機械学会誌118 (1164),2015,656-659
  • 高橋哲:光で見ること,測ることのギャップ,日本機械学会誌118 (1164),2015,664-667
  • 高増潔:知的計測技術によるナノスケール三次元形状測定,精密測定展2015,精密測定セミナー,パシフィコ横浜,2015,67-70
  • 高増潔:精密測定の基礎と三次元測定への応用:トレーサビリティと測定不確かさ適用技術,日本テクノセンター講習会,市ヶ谷,2015
  • 高橋哲:超高分解能顕微技術,光センシング技術部会2015年度第2回講演会「光波を用いたセンシング技術、ナノからサブナノへ向かう光計測技術及び生体計測」,東京大学,2015
  • 高橋哲:光計測,自動車技術会公開委員会「加工・計測技術の基本と最新技術」,自動車技術会,東京大学,2015
  • 高橋哲:半導体製造におけるナノ欠陥の高分解能・高感度・光学的計測法,精密工学会プラナリゼーションCMPとその応用技術専門委員会第145回研究会「半導体基板洗浄技術と関連計測技術の最前線」,四ツ谷,2015
  • Satoru Takahashi: Advanced optical inspection for engineering surface beyond the diffraction limit, The UT-NTU Conference at Tokyo 2015 "Emerging Technology Development of Material-Mechanics-Robotics",東京大学, 2015
  • 池上孝則:陸連に評価はムリ! 私なら世界一「公平」なマラソン選考が出来る,産経デジタルhttp://ironna.jp/article/2983,2016

解説論文,講演など:2014年度
  • 松本弘一:色分散を利用した材料表面の性状特性の評価, 光技術コンタクト 52 (4), 2014, 12-19
  • 高増潔:STEMによる半導体構造の形状測定, 日本学術振興会ナノプローブテクノロジー第167委員会第74回研究会, 2014, 21-25
  • 高増潔:トレーサビリティと精密測定の歴史,精密測定の条件,精密測定における測定不確かさ, 精密工学会/精密測定技術振興財団第367回講演会「“はかる”を知る,精密測定の理論と最新動向」, 2014, 1-11
  • 高橋哲:光による微細欠陥精密測定−近接場光から変調照明利用型まで−, 精密工学会/精密測定技術振興財団第367回講演会「“はかる”を知る,精密測定の理論と最新動向」, 2014, 12-16
  • 大西徹,坂本将也,中西正一,徳田祐樹,高増潔:現場環境における三次元測定機の高度化に関する研究−低熱膨張ブロックゲージを用いた温度補正の評価−, 技研所報 50 (1), 2014, 67-70
  • 高増潔:参照計測ためのTEM画像を用いたレジストおよびFinFETの形状測定, 次世代リソグラフィワークショップ2014(NGL2014), 2014, 25-26
  • 松本弘一:長さ標準−歴史,現状,今後−, 精密工学学会誌 80 (7), 2014, 630-633
  • 高橋哲:リレーエッセイ―先端とは何か―, RCAST NEWS 3, 2014, 15
  • 工藤良太,横関宏樹,高橋哲,高増潔:部門優秀講演論文賞表彰 Coherent Imaging Algorithm of Super-Resolution Optical Inspection with Structured Light Shift, 日本機械学会生産加工・工作機械部門ニュースレター 46, 2014, 8
  • 高増潔:記念講演・精密測定の今後, 日本精密測定機器工業会 創立60周年記念誌 未久路, 2014, 30-36
  • 松本弘一:コモンパス干渉計, 光技術コンタクト 52 (11), 2014, 25-30
  • Hirokazu Matsumoto: In-Situ Interferometric Metrology with Optical Comb, UNESCO International Year of Light Memorial/Japan Society for Precision Engineering (JSPE) International Symposium, 2015, 24-32
  • 高橋哲:東京大学 先端科学技術研究センター 光製造科学分野 高橋研究室, レーザ協会誌 40 (1), 2015, 36-39
  • 高橋哲:光によるマイクロ製造科学の新展開, 第34回 理研シンポジウム「マイクロファブリケーション研究の最新動向〜光応用加工・精密計測,レーザー加工の最前線〜」, 2014
  • 高増潔:精密測定の今後, 日本精密測定機器工業会創立60周年記念講演会, 2014
  • 大西徹,中西正一,高増潔:現場環境における三次元測定機の高度化に関する研究, 技研所報 50 (1), 2014
  • Hirokazu Matsumoto: Non-Contact Distance Metrology by Optical Comb for Industry and Society, Plenary Talk III, SICE Annual Conference 2014
  • 高増潔:技術論文・GPS規格の概要 −高精度の形状・大きさ・寸法を実現するためのGPS規格−, 日本精密測定機器工業会 創立60周年記念誌 未久路, 2014
  • 高増潔:三次元測定技術の基礎と効果的な活用法, 日本テクノセンター, 2014
  • 高橋哲:蛍光修飾を施さない回折限界超越観察技術の開発, 第135回微小光学研究会(応用物理学会)「微小光学を拓く数学:予測・復元・逆問題へのアプローチ」, 2015
解説論文,講演など:2013年度
  • 高増潔:多点法による誤差分離手法と不確かさ推定,第14回高エネ研メカ・ワークショップ報告集,2013,1-6
  • 池上孝則:マラソンに「補正タイム」,東京新聞2013年4月28日,2013
  • 沖藤春樹,高橋哲,高増潔:フォトレジスト形状の断面STEM 画像からエッジを決定する方法,第3回ユーザーズミーティング(パーク・システムズ・ジャパン),2013, 1-2
  • 大西徹,中西正一,高増潔:現場環境における三次元測定機の高度化に関する研究−温度ドリフトの評価および補正−,東京都立産業技術研究センター平成25年度研究成果発表会要旨集,2013, 121
  • 大西徹,高増潔:現場環境における三次元測定機の高度化に関する研究(概要),機械振興協会技術研究所 技研所報 49 (2), 2013, 9-12
  • 池上孝則:マラソン「フェアタイム」の池上,東京大学広報誌淡青27号,2013, 25
  • 韋冬,高増潔,松本弘一:隣接したパルス列繰返し長を用いた長さ計測―新たな物差しを求めて―,光計測シンポジウム2013,2013
  • 松本弘一:光周波数コム計測技術の進展と期待, Optronics 33 (3), 2014, 62-67
  • 王肖南,松本弘一,高橋哲,高増潔:パルス干渉法による大寸法計測, Optronics 33 (3), 2014, 73-79
  • 尾上太郎:二台の光周波数コムレーザを利用した粗面物体に対する非接触絶対計測, Optronics 33 (3), 2014, 80-86
  • 高増潔:光周波数コムの三次元測定機精度評価への応用, Optronics 33 (3), 2014, 87-91
  • 陳梅雲,上田宗一郎,高橋哲,高増潔:マルチビーム角度測定を用いた真円度測定機,平成25年GMSI海外ワークショップ報告書,2014
  • Meiyun Chen: GMSIプログラム海外ワークショップ報告書,2014
  • 高増潔:三次元座標測定機の基礎,NMIJ計測クラブCMMユーザーズクラブ講演会,2014
  • 高橋哲:回折限界超越を狙ったレーザー応用技術,光技術コンタクト51 (6),2013
  • 高増潔:三次元測定の現状と課題,カールツァイス東京ショールームオープンハウス,2013
  • 大西徹,坂本将也,中西正一,徳田祐樹,高増潔:現場環境における三次元測定機の高度化に関する研究−低熱膨張と熱膨張係数付ブロックゲージを用いた温度補正の評価−,産業技術連携推進会議平成25年度知的基盤部会,2013

解説論文,講演など;2012年度
  • 増沢隆久 , 高増潔:微細穴加工と計測の最前線(特集 微細穴の加工と計測),精密工学会誌 78(6),2012,443-447
  • 高橋哲:光励起型三次元ナノマイクロ加工法の新展開(新技術紹介),RadTech Japan NEWS LETTER,86,2012,5-8
  • 横野泰之,多田朋史,エリック・エイナルソン,原田香奈子,張氣薫,韋冬,前田悦男:GMSI教育プログラムの成果と課題 学生として,特任教員として感じたこと,GMSI Newsletter,Vol. 14,2012,1-6
  • 高増潔:精密工学科の近況,大樹 造兵精密同窓会誌No. 55,2012,3-6
  • 工藤良太:変調照明シフトを用いた超解像光学式計測手法 ,東京大学グローバルCOE研究成果,2012,28・72
  • 松本弘一:光コムによる超精密非接触計測,2013年度精密工学会春季大会シンポジウム 大規模環境の3次元計測と認識・モデリングの最前線,2013,25-28
  • 高橋哲:非伝搬局在光の精密・微細ものづくりへの適用(特集:光学技術と他分野との融合による新しい展開),光技術コンタクト,51( 3),2013,32-38
  • 宮川幸大:駒場生の皆さんに先輩からのメッセージ,精密工学科パンフレット(進学ガイダンス2013),2013
  • 高増潔:STEMを用いた半導体線幅測定および線形状測定のサブナノメートル校正,応用物理学会 次世代リソグラフィワークショップ(NGL2012),2012
  • 高増潔:知的精密計測のものづくりへの展開−トレーサビリティとナノメートル標準−,日本機械学会 革新的工作機械技術に関する研究分科会,第3回研究分科会,2012
  • 高増潔:光周波数コムを用いた絶対距離計測,精密工学会 大規模環境の3次元計測と認識・モデル化技術専門委員会第4回定例研究会,2012
  • Satoru Takahashi: Advanced Optical Measurement for Next-Generation micro/nano Manufacturing., DST-JSPS Asia Academic Seminar 2012 on Manufacturing, Design and Innovation, 2012
  • 高橋哲:回折限界超越を狙ったレーザー応用技術,日本オプトメカトロニクス協会フォトンテクノロジー技術部会,2013
  • 高橋哲:エバネッセント光を用いたナノ光造形,日本塑性加工学会ナノマイクロ加工分科会第10回セミナー−ナノマイクロ加工技術の現状と今後の展望−,2013

解説論文,講演など;2011年度
  • 松本弘一:知的光計測と標準化 〜ものづくりや安全を支援する基盤技術〜,光技術コンタクトVol.49,No.4,2011,1-3
  • 長野敏宗,重城聡美:東京大学大学院工学系研究科 精密工学専攻大学院入試案内ポスター,2011
  • 韋冬:フェムト秒光周波数コムの時間コヒーレンス特性を用いた新長さ計測法の提案 ?次世代長さトレーサビリティーネットワークの実現に向けて?,第25回(2011年度)独創性を拓く 先端技術大賞(文部科学大臣賞),日本工業新聞社,2011,1-11
  • 大西徹, 高瀬省徳, 高増潔:幾何形状測定の信頼性向上に関する研究(概要),技研所報Vol. 47,No. 1,2011, 5-12
  • 高増潔:日本東京大学高増潔教授受職我校兼職教授,北京理工大学News,2011年10月1日,http://www.bit.edu.cn/xww/xwtt/70033.htm,2011
  • 楊平:Multi-probe scanning method for measuring profile line of plane mirror in nanometer accuracy, GMSI News Letter Vol. 11, 2011, 10
  • 肖木崢:GMSI Workshop on Metrology,GMSI News Letter Vol. 11, 2011, 11
    松本弘一:〜若い人材の育成〜 留学・海外経験,光技術コンタクトVol. 50,No. 1,2011,5-6
  • 高増潔:ナノメートル形状計測における不確かさ評価とナノメートル標準の構築(要旨),表面科学技術研究会2012,2012
  • Kiyoshi Takamasu: A novel approach to measuring linewidth with subnanometer accuracy, SPIE Newsroom, 10.1117/2.1201110.003595, 2012, 1-3
  • 高増潔:微細管内径および内面の計測,砥粒加工学会誌Vol. 56,No. 2,2012,94-97
  • 高増潔:GPS規格の概要 −高精度の形状・大きさ・寸法を実現するためのGPS規格−,2012年度精密工学会春季大会シンポジウム,2012,31-34
  • 大西徹 , 高瀬省徳, 高増潔:現場環境における三次元測定機の高度化に関する研究−マルチスタイラス測定におけるプロービングシステムの指示誤差の評価,技研所報Vol. 47,No. 1,2011,105-108
  • 高瀬省徳,大西徹,高増潔:真円度測定機倍率校正用切欠き標準について,技研所報Vol. 47,No. 1,2011,109
  • 高増潔:三次元測定機の課題,CMM技術交流会:TTDC,2011
  • 高増潔:製品の幾何特性仕様(GPS規格)の最近の動向と幾何公差の解釈,日本テクノセンター,2011
  • 高増潔:不確かさ算出持ち回り測定:ソフトウェアの誤差伝播による不確かさ解析,CMM公開講座,2011

解説論文など;2010年度
  • 高橋哲:「夢」は光を道具とした究極のものづくりの実現,日経BP Techno Dream,2010,42-43
  • 工藤良太:「レイリー限界」を突破して光を使って超解像度画像を見る,日経BP Techno Dream,2010,44-45
  • 大西徹 , 高瀬省徳 , 高増潔:幾何形状測定の信頼性向上に関する研究(概要),技術所報 46(3),2010,5-12
  • 松本弘一:光周波数コムと干渉計測,オプトロニクス 29(8),2010,98-101
  • 高増研究室:測定器の“不確かさ”評価,日刊工業新聞,2010年9月2日,2010
  • 高増潔:精密測定における最小二乗法の使い方,精密工学会誌 Vol. 76, No. 10,2010, 1130-1133
  • 高増潔:製品の幾何特性仕様(GPS)の国際標準化の動向,日本機械学会誌 Vol. 113 (1103),2010,777-780
  • 高橋哲:電子投稿・校閲システムの導入ワーキンググループの活動を振り返って,精密工学会誌 Vol. 77, No. 2,2011,236-239
  • 高増潔:マイクロ・メゾ・ナノスケールの三次元形状計測,光技術コンタクト Vol. 49, No. 2,2011,4-9
  • Kiyoshi Takamasu: Present Problems in Coordinate Metrology for Nano and Micro Scale Measurements, MAPAN - Journal of Metrology Society of India, Vol. 26, No. 1, 2011, 3-14
  • 高橋哲:エバネッセント・マルチフォトンプローブの生成および解像力解析(平成21年度研究報告),豊田研究報告 (63), 177-180, 2010-05,177-180
  • 高増潔(原案作成委員会委員長):JIS B0642:2010 製品の幾何特性仕様(GPS)−測定機の一般的な概念及び要求事項,2010

解説論文など;2009年度
  • 高橋哲:エバネッセント・マルチフォトンプローブの解像メカニズムの解析,豊田研究報告 (62),2009,223-228
  • 大西徹,高瀬省徳,高増潔:計測技術高度化に関する研究(概要),技研所報45(2), 2009, 5-14
  • 大西徹,高瀬省徳,高増潔:現場環境における三次元測定機の高度化に関する研究−温度測定誤差を考慮した温度補正,(産業技術連携推進会議知的基盤部会第37回計測分科会),技研所報 45(2),2009,56-58
  • 高橋哲,臼杵深,高増潔:定在エバネセント波照明による超解像イメージング(回折限界を超えて),光学 38(7),2009,364-372
  • Satoru Takahashi, Kiyoshi Takamasu: Novel laser applications to 3-D micromachining and high-resolution measurement for micro/nano-manufacturing, Jsme News - Surface Engineering and Science -, The Japan Society of Mechanical Engineers 20 (2), 8-11
  • 松本弘一:電力・エネルギー分野における最近の計測システム(第8回)長さ・形状・位置の計測,電気評論 94(11),2009,59-63
  • 松本弘一:光学の革新「極限光計測」,光科学研究の最前線1-3,光の波動性の完全制御,強光子場科学研究懇談会,2009,25
  • 高橋哲:75周年記事業報告,3.3電子校閲システムの導入,精密工学会誌 75 (12),2009, 1486
  • 高橋哲:精密工学会誌 新年特別号 編集後記,精密工学会誌 76 (1),2010
  • 尾藤洋一,高橋哲,山崎敬則(インタビュア):精密工学会誌新年特別号 Gravure & Interview,精密工学の最前線 日本実験棟「きぼう」,精密工学会誌 76 (1),2010,3-7
  • 学生編集委員会(岩瀬勇人,遠藤崇訓,小川幸子,工藤良太,近藤余範,高野広樹,道畑正岐):Ge0-Diagnosis:(前編)空から見た地球の形,精密工学会誌 76 (1),2010,50-54
  • 高増潔:巻頭言 光計測を工場で使うために,光学 39 (3),2010,113
  • 松本弘一:総合報告 計量標準とトレーサビリティー,光学 39 (3),2010,114-121
  • 高増潔:マルチプローブによるナノメートル形状測定,マイクロ/ナノシステム研究専門委員会講演,2009
  • 高増潔:製造業のグローバル化対策の要−GPS(製品の幾何特性仕様)規格の動向−,標準化と品質管理全国大会2009,2009,2-10
  • 高増潔:精密計測の基礎,三次元計測の基礎,グラインディングアカデミー,砥粒加工学会,2010

解説論文など;2008年度
  • 森清和,樽井大志,長谷川隆久,吉川暢弘:自動車ボディへのリモート溶接技術の適用,溶接学会誌,Vol.77,No.3,2008,11-15
  • 松本弘一:日本の計量標準の現状と今後,M&E 2008年8月号,2008,94-98
  • 松本弘一:「トレーサビリティ計測工学寄附講座」の設置,計量標準と計量管理 Vol.58,No.2,2008,77-78
  • 高増潔:研究室紹介 東京大学大学院工学系研究科精密機械工学専攻 知的ナノ計測分野 高増・高橋研究室−精密測定から標準確立と知的計測へ−,光アライアンス,2008.8,2008,59-61
  • 高増潔:ナノスケールものづくりのための知的計測技術,計測と制御,47(9),2008,705-706
  • 高橋哲,高増潔:メカノオプトプローブによるナノ形状測定,計測と制御,47(9),2008,713-719
  • 高増潔:GPS規格フォーラム−図面のあいまい性をなくしグローバル化した生産システムへ対応する−,日本機械学会GPS規格フォーラム(No.08-146),2009,1-2
  • 高増潔:事業部会の活動状況,精密工学会誌,75(1),2009,173
  • 高増潔:知的ナノ計測専門委員会活動報告,精密工学会誌,75(1),2009,192
  • 高増潔:euspenの活動状況,精密工学会誌,75(1),2009,195
  • 飯田文明他:学生編集委員座談会 精密工学の25年前,今,そして未来,精密工学会誌,75(1),2009,165-172
  • 高増潔:ナノ計測,精密工学会誌,75(1),2009,91-92
  • 高増潔:製品の幾何特性仕様(GPS)の考え方,機械の研究,61(3),2009,317-324
  • 松本弘一:創設15周年を記念して,NITEニュース,28,2009,3-4
  • Introduction of Awards for 2007, JSPE Best Paper Awards, Precision engineering, 32, 3, 2008
  • 2007年度(第4回)精密工学会論文賞の紹介,精密工学会誌,74 (7),2008
  • 高増潔:計測・測定技術の最新動向,日刊工業新聞,2008年10月30日,2008,38
  • トレーサビリティ計測寄付講座,発足,月刊トライボロジー,252,2008,65
  • 高増潔:基調講演 公差の基本的な考え方,公差体系の国際的動向,寸法公差や幾何公差を正しく効率的に設定するための はじめての公差解析セミナー,2008,1-23
  • 飯田文明,門田洋一,亀山敦史,長谷亜蘭,藤井陽介,槇田諭,道畑正岐,森岡崇;技能を守れ!町工場の底力 : ロケット・航空機部品編(後編),精密工学会誌,74(6),2008,571-575
  • 大西徹,高瀬省徳,高増潔:計測技術高度化に関する研究(概要),技研所報,44(2),2008,5-12(未掲載)
  • 大西徹,高瀬省徳,高増潔:現場環境における三次元測定機の高度化に関する研究(第2報)直角誤差補正,技研所報,44(2),2008,81-85
  • 青山藤詞郎,新井民夫,厨川常元,佐々木健,鈴木宏正,高増潔,竹内芳美,古川勇二,水野毅:精密工学会技術ロードマップ,2008,22-24
  • 高増潔:幾何公差の基本的な考え方および関連規格の動向,東京都立産業技術研究センター・日本機械学会連携事業 ものつくりに役に立つ幾何公差の考え方,2008
  • 高増潔:三次元測定等の精密測定における研究動向 −精密測定の条件と三次元座測定の不確かさ−,東京精密計測センターオープン記念講演,2008
  • 高増潔:ナノメートル計測とトレーサビリティ,産学人材育成パートナーシップ事業−マイクロ・ナノ量産技術と応用デバイス製造に関する新事業イノベーション人材育成−講座 「先端精密工学の基礎」,2009
  • 高増潔:GPS規格(製品の幾何特性仕様)の国際標準化,製品の幾何公差(GPS)の標準化に関する調査研究 すべり軸受とGPS規格−評価・検証を中心として,2009
  • 高増潔:三次元測定機における測定,地域イノベーション創出共同体形成事業 公開講座 高度なものづくりのための形状計測技術 三次元測定機の賢い使い方,2009,5-24

解説論文など;2007年度
  • 高増潔:広報委員長退任の挨拶 「今後の広報活動の発展を願って」, 学内広報 1355,2007.4.11, 2007, 45
  • 高橋哲,奥野将樹,高増潔:光触媒ナノ粒子を用いたマイクロ三次元金属構造の創製−三次元ビームスキャンによるマクロ立体構造の直接描画−, 光アライアンス,Vol.18, No.5, 2007, 28-31
  • Introduction of Awards for 2006,精密工学会論文賞の紹介, Precision Engineering, 31, 3, 2007
  • 高瀬省徳,大西徹,高増潔:計測標準高度化に関する研究(概要),技研所報 Vol.43, No.2 (134), 9-16
  • 高橋哲:近接場光を利用した界面・表面層評価技術,精密工学会誌,73(8), 2007, 883-887
  • 高増潔:製品の幾何特性仕様の基礎的知識, 日本機械学会 ワークショップ ISO・幾何公差・表面性状の規格体系のコンセプト, 2007, 283-284
  • 高増潔:三次元座標測定概論−精密測定の条件と三次元座標測定の不確かさ−, 精密工学会講習会「実験・評価機器マスターへの道 その3 −差のつく三次元座標測定活用法−」, 2007, 1-5
  • 高増潔:国際交流委員会 アジアにおける精密工学会(ASPEN)のスタート,精密工学会誌,74(1),2008,44
  • 高増潔:GPS規格(製品の幾何公差仕様)による測定・評価のコンセプト, 日本機械学会セミナー「GPS規格(製品幾何特性仕様)を用いた測定・評価」, 2008, 1-8
  • 高増潔:知的計測技術によるメソスケール形状測定,精密工学会誌,74(3), 2008, 213-216
  • 高橋哲, 近接場光を利用した工業計測, 光技術動向調査報告書, 2007, 385-389
  • Kiyoshi Takamasu: Nanometrology: CD-AFM, Nano-CMM and Multi-Ball-Cantilever AFM, Chungnam National University, Daejeon, Korea, 2007, 1-20
  • 高増潔:幾何公差の目的と効果, 日経ものづくり 幾何公差セミナー, 2007, 1-17

解説論文など;2006年度
  • 高橋哲,三好隆志:ナノ・マイクロファブリケーションにおける高分解能光計測技術 エバネッセント光を利用したナノ計測技術とその可能性,検査技術,2006年3号,2006,1-7
  • 木村文彦,新井民夫,高増潔,鈴木宏正,太田順,山本晃生,小谷潔,杉正夫,佐藤洋一,新誠一:実世界情報システムプロジェクト アテンティブエンバイロンメント研究グループ,21世紀COE 情報科学技術戦略コア 平成17年度 報告書,2006,129-132
  • 高増潔,小谷潔:平面リニアモータに関する研究成果 −歯車車輪式平面リニア移動機構のワイヤレス化−,21世紀COE 情報科学技術戦略コア 平成17年度 報告書,2006,143-146
  • 小谷潔:バイタルサインモニタによる自律神経活動評価,21世紀COE 情報科学技術戦略コア 平成17年度 報告書,2006,151-152
  • 高橋哲,高増潔,三好隆志:エバネッセント光を利用した微細加工と高分解能計測(特集:ナノ材料にみる近接場光学の新展開),光アライアンスVol.17,No.6,2006,1-5
  • 高瀬省徳,大西徹,高増潔:計測標準高度化に関する研究(概要),技研所報Vol.42,No.2,2006,13-20
  • 高橋哲(インタビュア):サイバーレーザー株式会社 住吉哲実氏 超短パルスレーザ光源開発の最前線,精密工学会誌,72(8),2006,941-942
  • 高橋哲:編集後記,精密工学会誌,72(8),2006,会8-39
  • 高増潔:ナノ三次元形状測定の課題,ZYGO Metrology Seminar 2006,2006,1-27
  • 高増潔:グラビアとインタビュー 精密工学の最前線 ナノスケール知的計測の確立を目指して,精密工学会誌,72(10),2006,1181-1184
  • 高増潔:知的ナノ計測技術の現状と将来展望,ナノ計測技術徹底解説 講演予稿集,2006,9-48
  • 高橋哲:編集後記,Ttime,平成18年12月25日発行,2006
  • 高橋哲:近接場を利用した検査技術,平成18年度先端的外観検査技術に関する調査研究報告書,2006,175-184
  • 高増潔:研究開発の原点 ものづくりのための計測技術,InterLab 2007年1月号,2007,39-42
  • 高増潔:広報委員長 新年の挨拶 東京大学の進むべき方向を社会に示す広報の重要性,学内広報 1350,2007,34
  • 高橋哲,高増潔:ナノ・マイクロファブリケーションにおける機能表面の先端光計測技術,月刊トライボロジー No.234,2007,19-21
  • 高増潔:東京大学電子ジャーナル事情 学術の世界に広がる「電子化の波」,淡青19,2007,22-23

解説論文など:2005年度
  • 高橋哲,梶原優介,高増潔:ナノ光造形法への新しいレーザー応用技術,プラスチック成形加工学会誌「成形加工」,17(3),2005,161-166
  • 高橋哲,三好隆志:ナノ・マイクロファブリケーションにおける光学的計測技術のアプローチ,日本機械学会誌,108(1040),2005,537-539
  • 高瀬省徳,大西徹,高増潔:計測標準高度化に関する研究(概要),機械振興協会技術研究所「技研所報」,41(2)130,2005,13-20
  • 高橋哲:近接場光学を利用したナノ光造形法に関する基礎的研究,三豊科学技術振興協会「研究成果報告書」平成15年助成対象,2006,59-64

解説論文など:2004年度
  • 三隅伊知子:長さ標準にトレーサブルな測長AFMとナノ・メトロロジー用標準スケール,砥粒加工学会誌,48(5),2004,249-252
  • 三好隆志,高増潔,高偉:知的ナノ計測研究分科会 ナノスケールの知的計測の確立を目指して,精密工学会誌,70(8),2004,1028-1029
  • 高瀬省徳,大西徹,高増潔:計測標準高度化に関する研究(概要),技研所報,40(3),2004,17-23
  • 高橋哲:国際会議報告 euspen 4th International Conference 報告,精密工学会誌,70(9),2004,1168
  • 高増潔,高橋哲:研究室紹介 精密測定から標準確立と知的計測へ,精密工学会誌,70(11),2004,1377-1378
  • 高橋哲:書評 「電子光計測」,精密工学会誌,70(12),2004,1480
  • 高増潔:GPS(製品の幾何特性仕様)に基づいた検証方法−幾何公差の解釈と三次元測定機の不確かさ評価,設計工学,40(2),2005,79-85
  • 高増潔:GPSに基づいた検証方法,第9回設計フォーラム,2004,20-28
  • 高橋哲:精密機械工学専攻に赴任して,造兵精密同窓会誌 ,2004,15-16
  • 高橋哲,梶原優介,高増潔:ナノ光造形法への新しいレーザー応用技術,成形加工,17(3),2005,161-166

解説論文など:2003年度
  • 高橋哲:近接場光学を利用したSiウエハ加工表面のナノ欠陥計測,画像応用技術専門委員会報告,17(5),2003,1-10
  • 高増潔,古谷涼秋:ナノCMMにおけるナノプローブシステムの開発,マイクロマシン, 44,2003,3
  • 高増潔,古谷涼秋:ナノCMMにおけるナノプローブシステムの開発,マイクロマシンセンター 第9回研究成果報告書,2003,11-18 PDF File
  • 上野滋,小西和正,粟野陽一,高瀬省徳,大西徹,五嶋裕之,松丸誠一,高増潔:計測標準高度化に関する研究(概要),技研所報,39(2)(124)(Sept.,2003),17-28
  • 三隅伊知子:測長AFMによるナノメートル標準の確立に向けて,O plus E,26(1),2004,64-70
  • 高増潔:幾何公差とISO/GPS規格,幾何公差方式とは何か,ISO/GPS規格セミナー,日本規格協会,2004,2-19
  • 高増潔:光パターン投影を用いた人体形体の3D計測,2004年度精密工学会春季大会シンポジウム資料,2004,107-111 PDF File
  • 高増潔:ナノメートル三次元測定機とナノプローブ,マイクロマシン No.40,2002,8

解説論文など:2002年度
  • 高増潔:ナノメートル三次元測定機とナノプローブ,マイクロマシン No.40,2002,8
  • 高橋哲:近接場光学を利用したSiウエハ加工表面のナノ欠陥計測,画像応用技術専門委員会報告,17(5),2003,1-10
  • 高辻利之,土井琢磨,三隅伊知子,大澤尊光,黒澤富蔵:三次元幾何標準の動向,光学,32(2), 2003, 77-81
  • 高増潔:2・3次元のインターフェース技術,平成14年度 スケールインターフェースに関する調査研究事業報告書,2003,95-110
  • 高増潔:アーティファクト値付けの不確かさ算出,歯車のナノレベル形状評価のための測定機の校正原器及びその原器に基づく校正方法の研究とその標準化 平成14年度事業成果,2003,134-144
  • K. Takamasu: Final Research Report International Standard Development of Virtual CMM (Coordinate Measuring Machine), NEDO, 2002 PDF File

解説論文など:2001年度
  • 高増潔:バーチャル三次元測定機,計測と制御,40(11),2001,801-804
  • 三隅伊知子,権太聡:各国標準研究所の測長走査型プローブ顕微鏡,精密工学会誌,68(3),2002,345-348
  • 三隅伊知子:高分解能AFMによるナノメートル計測−表面微小寸法・微細形状の精密測定−,産業技術総合研究所広報誌 AIST Today,2002年1月号,15
  • 高増潔:三次元測定機の不確かさ推定方法とその国際規格化,機械と工具,45(3),2001,66-70

解説論文など:2000年度
  • 高増潔:三次元測定機の不確かさ推定方法とその国際規格化,機械と工具,45(3),2001,pp. 66-70
  • 高増潔:上野滋著 「はじめての計測技術」,機械と工具,2000
  • 高増潔:身体形態特性データの計測・データベース化手法に係る標準 第5章 人体計測における不確かさの評価に関する研究開発,NEDO受託成果報告書,2000,pp. 111-154
  • 高増潔::システム創成学科における新しい教育,Vision2020シンポジウム:光学教育への挑戦,2000,pp. 39-45
  • 高増潔:光を応用した三次元形状計測,画像応用技術専門委員会報告,15(1),2000,pp. 25-34
  • 高増潔:測定の不確かさと三次元測定機,東大精研会基礎講座2001
  • バーチャルCMM(三次元測定機)の国際標準化,NEDO国際共同研究(1999年度〜2002年度)

解説論文など:1999年度
  • バーチャルCMM(三次元測定機)の国際標準化,NEDO国際共同研究(1999年度〜2002年度)および新聞記事(日経産業新聞1999年8月20日)
  • 高増潔,平木雅彦:東京大学大園・高増研究室―パラレルCMMとそのプロトタイピング―,1999年度精密工学会秋季大会学術講演会パネル展示
  • レゴパラレルCMM関係の引用(精密工学会誌,66(2),2000,pp. 200)と新聞記事(朝日新聞2000年4月24日夕刊)

解説論文など:1998年度
  • 大園成夫:3次元形状測定の現状と課題,機械と工具,42(10),1998,pp.14-16.
  • 高増潔:3次元形状測定とISOの動向,機械と工具,42(10),1998,pp.17-21.
  • 高増潔,平木雅彦:パラレルメカニズムを用いた三次元測定機の実際,機械と工具,42(10),1998,pp.28-32.
  • 高増潔:座標計測の現状と問題点,超精密,8,1998,pp.69-76.
  • 高増潔:測定ロボット,工学情報,590,1998,pp.9-10.

解説論文など:1997年度
  • 大園成夫:精密工学と精密工学会,精密工学会九州支部ニュース,3,1998,pp.3.
  • 大園成夫:留学生の入学選考の改善方策について,大学と学生,393,1997,pp.12-17.
  • 大園成夫:留学生数の頭打ちと入学選考方法について,ISI会報,75,1997,pp.1-2.
  • 大園成夫:日立電子エンジニアリング(株)と測定,日立電子エンジニアリング技報,15,1998,pp.1-2.
  • 高増潔,平木雅彦:パラレルCMM(パラレルメカニズムを用いた三次元座標測定機),精密工学会誌,63(12),1997, pp.1676-1679.
  • 高増潔:座標計測の現状と問題点,超精密加工専門委員会第34回研究会資料,1997,pp.11-17

解説論文など:1996年度
  • 高増潔,三次元測定機とデータ処理の諸問題,画像応用技術専門委員会サマーセミナー'96,1996,pp.19-25.
  • 高増潔,生産加工技術の新しい動き −計測機器−,機械と工具,41(1),1997,pp.53-57.
  • 高増潔,アクティブ光学素子による形状測定の現状,画像応用技術専門委員会10周年記念講演,1996,pp.18-22.

解説論文など:1995年度以前(高増の関係したもの)
  • 高増 潔,nano-CMMの開発,機械と工具,39(10),1995,pp.28-32.
  • 高増 潔,進展する3次元測定技術,M & E,1995,pp.148-154.
  • 高増 潔,3次元測定機のソフトウェアの動向,計量管理,40(6),1992,pp.258-263.
  • 高増 潔,画像計測の現状と展望,Qualitech World,3(4),1993,pp.8-11.
  • 高増 潔,ロボットの3次元相対変位の高精度測定方法,東京電機大学総合研究所年報1992,1993,pp.73-76.
  • 高増 潔,計測技術 −さらに進んだデジタル化とコンピュータ処理−,機械と工具,33(1),1989,pp.56-62.
  • 高増 潔,三次元測定の自動化とデ−タ処理,機械と工具,30(12),1986,pp.38-42.
  • 高増 潔,DECUS-C言語による画像処理システム,DECUS論集1984年版,1984,pp.57-60.
  • 大園成夫,山田昌寿,高増 潔,三次元座標測定機による形状及び形状精度の測定,東京大学工学部紀要(A),20,1982,pp.24-25.
  • 大園成夫,高増 潔,筏井幸夫,計算機援用ゲ−ジング(CAG)の研究,東京大学工学部紀要(A),16,1978,pp.45-46.